急速充電器でスマホを焼く脆弱性「BadPower」報告。ファームウェア改変し高電圧印加 Engadget Japanese RSS Feed 著者: Munenori Taniguchi 2020年7月20日 16:30 中国テンセントのセキュリティ研究部門Xuanwu Labが、USB急速充電器のファームウェアを改変して被充電デバイスを焼損…